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IMSE participará Science is Wonderful 2026
El IMSE representará al CSIC en la Feria Europea de la Ciencia "Science is Wonderful!" 2026

"Science is Wonderful!", la Feria Internacional de la Ciencia organizada por la Comisión Europea, se celebrará en Bruselas los próximos 18, 19 y 20 de marzo de 2026, y volverá a contar por tercer año consecutivo con la participación de un equipo de investigadores del Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM).
3 Noviembre 2025

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Premio TFM Pablo Navarro IMSE
El IMSE firma la excelencia en seguridad digital

El talento investigador del IMSE vuelve a destacar con el Premio "Leonardo Torres Quevedo" concedido a Pablo Navarro por su Trabajo de Fin de Máster que profundiza en la seguridad y eficiencia de algoritmos criptográficos.
31 Octubre 2025

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Noche Europea Investigadores 2025
De la ciberseguridad a los circuitos: las actividades del IMSE en La Noche Europea de los Investigadores

El Instituto de Microelectrónica de Sevilla conectó con la ciudadanía a través de dos actividades que combinaron entretenimiento y aprendizaje científico, acercando la microelectrónica y la ciberseguridad de manera interactiva y participativa.
3 Octubre 2025

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IMSE impulsa cooperación en proyectos interacionales
El IMSE impulsa la cooperación entre ICUs en gestión de proyectos internacionales

Durante los días 18 y 19 de septiembre, el Instituto de Microelectrónica de Sevilla acogió el MENTORING REDINTER, un encuentro organizado conjuntamente por varias oficinas de proyectos y de internacionalización del CSIC.
22 Septiembre 2025

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IA monitorizacion inteligente
La IA, aliada de la biodiversidad. Monitorización inteligente de especies

La biodiversidad está atravesando una crisis sin precedentes en la historia reciente del planeta. Cada vez más especies animales ven reducidas sus poblaciones y, en muchos casos, se enfrentan a la extinción. Esta pérdida de biodiversidad es uno de los grandes retos de nuestro tiempo, pero ¿qué podemos hacer para proteger las especies que habitan nuestro planeta?
9 Septiembre 2025

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Visita profesora Ileana Buhan IMSE
Visita de la profesora Ileana Buhan, experta en seguridad digital

Durante los días 17 y 18 de julio hemos tenido el placer de recibir en nuestras instalaciones a la profesora Ileana Buhan, procedente de la Universidad Radboud de Nijmegen. Especialista en seguridad digital, Ileana centra su investigación en el diseño y desarrollo de sistemas digitales seguros.
21 Julio 2025

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EVENTOS Y NOTICIAS ANTERIORES

Nueva Directora del IMSE-CNM


La investigadora del IMSE Teresa Serrano Gotarredona ha sido nombrada nueva Directora del Instituto de Microelectrónica de Sevilla.

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A Side-Channel Protected and High-Performance Hardware Implementation for EdDSA25519
P. Navarro-Torrero, E. Camacho-Ruiz, M.C. Martínez-Rodríguez and P. Brox
Journal Paper · IEEE Access Vol 13
IEEE    ISSN: 2169-3536
resumen      doi      

This paper presents a high-performance and secure hardware implementation of the Edwards-Curve Digital Signature Algorithm (EdDSA25519). Using the fixed-base signed multi-comb and the k-ary algorithms for scalar multiplication, the proposed design achieves 307%, 253%, and 48% faster performance in key generation, signature generation, and signature verification, respectively, compared to the fastest previous hardware implementation in the state-of-the-art. When compared to the software-based OpenSSL implementation, our design demonstrates timing performance improvements ranging from 1000% to 2200%. Additionally, we integrate robust Side-Channel Attack (SCA) countermeasures and validate their effectiveness through Test Vector Leakage Assessment (TVLA). The results demonstrate increased resistance to Simple Power Analysis (SPA) and Differential Power Analysis (DPA), offering a hardware-based secure solution for modern cryptographic applications.

Workload Compression Techniques to Scale Defect-Centric BTI Models to the Circuit Level
A. Santana-Andreo, V.M. van Santen, R. Castro-López, E. Roca, H. Amrouch and F.V. Fernández
Journal Paper · IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers (Early Access), 2025
IEEE    ISSN: 1549-8328
resumen      doi      

Bias Temperature Instability (BTI) poses a significant challenge in ensuring the reliability of digital systems, affecting the delay of digital logic gates, which ultimately can lead into timing failures. Sophisticated defect-centric models have been developed and successfully calibrated against empirical data to forecast the impacts of BTI at the device level. However, their application to large-scale digital circuits operating under realistic workloads over typical system lifetimes is limited because of the computational complexity of defect-centric models. To make the application of aging models in that context feasible, a useful technique is to compress the transistor workloads into simplified and hence manageable representative workloads. While fast in terms of execution speed, previous techniques struggle with accuracy when predicting aging degradation, and can reach a very high average error in threshold voltage increase prediction. In this work, we review the compression techniques described in the literature and propose two novel approaches that surpass existing ones in terms of accuracy, which is demonstrated for a complex digital design used as benchmark. Specifically, our best compression technique matches the predictions obtained through the reference uncompressed workloads, introducing negligible error, and maintains low execution times to efficiently and accurately scale defect-centric models to the circuit level.

TVLA assessment and proposed countemeasures on the hardware implementation of EdDSA25519
P. Navarro-Torrero, E. Camacho-Ruiz, M.C. Martinez-Rodriguez and P. Brox
Conference · Demo in the University Fait at DATE (Design, Automation and Test in Europe Conference) 2025, Marzo 31-Abril 2, 2025 (https://www.date-conference.com)
resumen     

Abstract not available

VLSI Integration of a Physical Unclonable Function as identifier and key generator
P. Ortega-Castro, M.C. Martinez-Rodriguez and P. Brox
Conference · Demo in the University Fait at DATE (Design, Automation and Test in Europe Conference) 2025, Marzo 31-Abril 2, 2025 (https://www.date-conference.com)
resumen     

Abstract not available

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El área de especialización del Instituto es el diseño de circuitos integrados analógicos y de señal mixta en tecnología CMOS, así como su uso en diferentes contextos de aplicación tales como dispositivos biomédicos, comunicaciones inalámbricas, conversión de datos, sensores de visión inteligentes, ciberseguridad, computación neuromórfica y tecnología espacial.

La plantilla del IMSE-CNM está formada por unas cien personas, entre personal científico y de apoyo, que participan en el avance del conocimiento, la generación de diseños de alto nivel científico-técnico y la transferencia de tecnología.

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